ATD-312型 EVA体积表面电阻率测试仪所有测试电压（100/250/500/1000V） 测试时电阻结果直读，免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦，使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便 EVA TPU薄膜体积表面电阻率测定仪

ATI212电阻率检测仪既可测量超高电阻，又可测极微弱电流。采用了大规模集成电路以及的技 术，使仪器体积小、重量轻、准确度高。以数字液晶显示电阻并同时直接显示流过被测电阻的电流。电阻量程从1×104Ω ～1×1018Ω， 电流测量范围 为2 ×10-4A ～1 ×10-16A。

体积电阻率测试仪厂家 材料高阻测试测量如防静电产品（防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等）电阻值的检测； 材料体电阻（率）和表面电阻（率）测量；

绝缘漆体积表面电阻率测试仪电流测量范围： 2 ×10-4A ～1 ×10-16 A； ? 直接显示电阻率； ? 体积小、重量轻、准确度高； ? 独的被测电阻、流过电阻和电阻率显示，使操作测量更加方便

电线电缆导体半导体材料电阻率测试仪本仪器配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率，*符合国家标准GB1410－2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法，ASTM D257 绝缘材料的直流电阻或电导试验方法　等标准要求。

LST-121体积表面电阻率测试仪范围使用环境: 温度 -10℃～50℃ 相对湿度90%。ATI-212电阻率检测仪 6. 测试电压: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%

BD-86A型半导体电阻率测试仪是根据四探针测试原理研制成功的新型半导体电阻率测试器，适合半导体器件厂、材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率、方块电阻（薄层电阻），也可以用作测量金属薄层电阻、导电薄层电阻，具有测量精度高、范围广、稳定性好、结构紧凑、使用方便、价格低等特点。

四探针方阻电阻率测试仪硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.